ГОСТ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 → Диоды
31.080.10. Диоды
- Диоды полупроводниковые типов Д223, Д223А, Д223Б для устройств широкого применения
Semiconductors diodes types of Д 223, Д 223a, Д 223Б for widely used devices - Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения
Tunnel diodes. Types aИ301a, aИ301, aИ301b, aИ301Г for widely used devices - Диоды полупроводниковые. Основные параметры
Semiconductor diodes. Basic parameters
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы, диоды СВЧ, выпрямительные столбы и импульсные диодные матрицы (сборки) - Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки - Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод - Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения - Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления - Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Александра Петрова
Ведущий эксперт по сертификации с 10-летним опытом. Помогу решить любые вопросы по оформлению документов.
Telegram чат
Позвонить
🎉 Супер предложение
Для города действует скидка на оформление документов до -40%.
Узнать подробности