В кратчайшие сроки сертифицируем все виды продукции с внесением в реестр ФСА и гарантией легитимности
Отправим оригинал бесплатно в любой город за 3 дня
Сделаем в срок по договору или вернем деньги
Делаем пресональные скидки постоянным клиентам
Заполните форму, и мы свяжемся с Вами:
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН
Название на англ.: | Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators |
Тип документа: | стандарт |
Статус документа: | действующий |
Число страниц: | 19 |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 25.07.1988 |
Дата введения в действие: | 30.06.1989 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Оставьте заявку сейчас и получите бесплатную консультацию.
Ведущий эксперт по сертификации с 10-летним опытом. Помогу решить любые вопросы по оформлению документов.
Для города действует скидка на оформление документов до -40%.
Узнать подробности